管理者ICの記事一覧
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走査型電子顕微鏡ご利用上の注意
FE-SEMのオーバーホールでは7月11～19日の期間、ご不便をおかけしました。 整備点検は無事終了し、通常通りご利用いただけますが、以下の点にご注意くださいますようお願いいたします。 １．粒子サイズ【...続きを読む】
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cryo-TEM（クライオホルダー）の不具合について
只今、cryo-TEMのサンプル固定用治具が破損しており、クライオホルダーの使用が出来ません。 通常のホルダーを使用して常温でのTEM利用は可能です。 修理見積をメーカーに依頼中です。 よろしくお願い【...続きを読む】
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新しい機器予約システム公開のお知らせ
機器予約システムのサイトが新しくなりました。 予約フォームの使い方はこちらをご確認ください。 よろしくお願いいたします。【...続きを読む】
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XPSの不具合について
只今、TMP（ターボ分子ポンプ）の不具合により、XPSの使用が出来ません。 メーカー問い合わせ中につき修理は未定です。 よろしくお願いいたします。【...続きを読む】