計測・分析センター

  • center-08透過型電子顕微鏡(cryo-TEM)

    透過型電子顕微鏡(cryo-TEM)

    型  番
    JEM-2100Plus
    メーカー
    JEOL
    スペック
    加速電圧:80~200kV

    細胞やタンパク質などの生体試料を、一切の化学固定を行わず、水や水溶性成分を含んだまま観察できます。生体高分子や材料系流体試料は、試料環境を制御し、凍結条件をプログラムできる急速凍結装置(ライカ EM GP2)を用いて氷包埋処理を行うことができます。

  • center-09透過型電子顕微鏡(TEM)

    透過型電子顕微鏡(TEM)

    型  番
    JEM-3010
    メーカー
    JEOL
    スペック
    加速電圧:100~300kV、倍率:×4,000~×1,500,000

    試料に電子線を照射して、そのまま試料を透過する電子を結像させることにより、試料内部の微細構造を観察することができます。

  • center-07電界放出形走査電子顕微鏡・JEOL(FE-SEM)

    電界放出形走査電子顕微鏡・JEOL(FE-SEM)

    型  番
    JSM-7800F
    メーカー
    JEOL
    スペック
    分解能:0.8nm(15kV), 1.2nm(1kV)、倍率:×25~×1,000,000 EDS付属

    試料に電子線を照射して、試料表面から発生する2次電子を検出することにより、試料の表面形態を観察することが可能です。またEDSを付属しているので、元素分析が可能です。

  • center-06電界放出形走査電子顕微鏡・HITACHI(FE-SEM)

    電界放出形走査電子顕微鏡・HITACHI(FE-SEM)

    型  番
    S-5200
    メーカー
    HITACHI
    スペック
    加速電圧:0.5~30 kV、分解能:0.5 nm(30 kV)

    試料に電子線を照射して、試料表面から発生する2次電子を検出することにより、試料の表面形態を観察することができます。

  • 全自動水平型多目的X線回折装置(XRD)

    center-15全自動水平型多目的X線回折装置(XRD)

    全自動水平型多目的X線回折装置(XRD)

    型  番
    SmartLab
    メーカー
    リガク
    スペック
    小角ユニット、キャピラリーユニット、高温ユニット装備

    発生させた特性X線を試料に入射して、回折したX線の強度を測定することにより、原子・分子が空間的に規則正しく配置している結晶の構造を推定できます。さらに膜圧測定、配向測定、粒径空孔径分布測定など、従来難しかった薄膜材料の測定も可能です。また、小角散乱測定も可能です。

  • 蛍光X線分析装置(XRF)

    center-14蛍光X線分析装置(XRF)

    蛍光X線分析装置(XRF)

    型  番
    NEX CG (EDXL 300)
    メーカー
    リガク
    スペック
    下面反射(液体)可

    測定サンプルにX線を照射して発生する固有の蛍光X線を測定することで、構成成分の組成分析と定量分析を同時に行う。サンプルの形状は固体、液体、粉末、スラリーなどほぼすべての形態に対応。軽元素(H~F)には非対応。

  • マルチタイプICP発光分光分析装置(ICP-AES)

    center-13マルチタイプICP発光分光分析装置(ICP-AES)

    マルチタイプICP発光分光分析装置(ICP-AES)

    型  番
    ICPE9820
    メーカー
    島津
    スペック
    高塩試料用トーチ、耐フッ酸用トーチ、オートサンプラー付属

    6000K以上のアルゴンプラズマ中に液体試料を噴霧導入し、発生する光を測定することにより、環境水中や試料中の微量元素の定量が可能です。

  • center-04X線光電子分光分析装置(XPS)

    X線光電子分光分析装置(XPS)

    型  番
    AXIS-His
    メーカー
    島津/KRATOS
    スペック
    感度:Ag3d5/2 450W 1.0eVで120μmφ:200kcps、60μmφ:75kcps

    表面数nmに存在する元素 (Li~U)に対し、定性・定量分析が可能です。 XPSは励起源として軟X線を用いているため、励起光による試料損傷が少なく、絶縁物の帯電も容易に除去できることから、金属材料だけでなく、高分子材料など多くの材料に対して測定が可能です。

  • 元素分析装置(EA)

    center-22元素分析装置(EA)

    元素分析装置(EA)

    型  番
    MT-6 CHN Corder
    メーカー
    ヤナコ
    スペック
    S-Corder装着可能

    試料を燃焼分解させ、試料中の水素・窒素・炭素の重量%を求める定量分析装置です。アタッチメントの交換により硫黄の定量も可能です。

  • 核磁気共鳴装置(固体NMR)

    center-21核磁気共鳴装置(固体NMR)

    核磁気共鳴装置(固体NMR)

    型  番
    JNM-ECA-500Ⅱ
    メーカー
    JEOL
    スペック
    測定核種:1H、19F 15N~31P プローブ:1mm、3.2mm、8mm

    核磁気共鳴現象を利用して、分子構造の解析を行う装置です。高分子などの試料の溶解性が低いときや、固体状態での分子の動的挙動などを調べることができます。

  • 核磁気共鳴装置(NMR)

    center-20核磁気共鳴装置(NMR)

    核磁気共鳴装置(NMR)

    型  番
    JNM-ECZ500R
    メーカー
    JEOL
    スペック
    測定核種:1H、13C、19F、31P~15N、39K、109Ag

    物質を磁石(静磁場)の中に置くと、物質を構成している原子核がその種類によってある特定の周波数の電磁波を吸収する現象(核磁気共鳴)を利用して、物質がどのような原子で構成されているかを調べることが出来ます。主に水素[1H]と炭素[13C]のNMRが有機物の分子構造解析に利用されています。

  • 分光光度計(UV)

    center-16分光光度計(UV)

    分光光度計(UV)

    型  番
    UV-2600
    メーカー
    島津
    スペック
    測定波長範囲(185nm~900nm)、積分球付属装置ISR-2600Plus使用時(220nm~1400nm)

    紫外領域と可視領域の光をサンプルに照射して溶液の吸収スペクトルを測定し定量分析を行います。また、固体試料でも、透過スペクトルや反射スペクトルの測定が可能です。

  • ガスクロマトグラフ・質量分析計(GC-MS)

    center-18ガスクロマトグラフ・質量分析計(GC-MS)

    ガスクロマトグラフ・質量分析計(GC-MS)

    型  番
    GCMS-QP2010Ultra
    メーカー
    島津
    スペック
    オートインジェクタ、オートサンプラー付属

    MS(質量分析計)を検出器としたガスクロマトグラフ装置です。複数の成分を含む試料は、まずガスクロマトグラフで単一成分に分離され、次に質量分析計で個々の成分のMSスペクトルとその強度を測定することで成分の定性と定量を行います。

  • イオンクロマトグラフ(IC)

    center-17イオンクロマトグラフ(IC)

    イオンクロマトグラフ(IC)

    型  番
    ICS-2100
    メーカー
    Thermo Fisher scientific
    スペック
    カチオン・アニオン測定可能

    主に溶液中のイオン性成分の定性定量が可能です。陰イオン用と陽イオン用の2台のイオンクロマトグラフを使用し、同時に測定することが可能です。

  • 熱分析装置・リガク(DSC/TG-DTA)

    center-10熱分析装置・リガク(DSC/TG-DTA)

    熱分析装置・リガク(DSC/TG-DTA)

    型  番
    D-DSC8230/TG8120IRH
    メーカー
    リガク
    スペック
    測定温度範囲 TG:室温~1500℃,DSC:室温~725℃

    一定のプログラムに従って、試料を連続的に加熱または冷却しながら、試料に生じる変化を測定することで材料の温度に対する物性評価ができます。

  • 熱分析装置・島津(DSC/TG-DTA)

    center-11熱分析装置・島津(DSC/TG-DTA)

    熱分析装置・島津(DSC/TG-DTA)

    型  番
    DTG-60AH
    メーカー
    島津
    スペック
    測定温度範囲 TG:室温~1500℃,DSC:-140℃~600℃

    一定のプログラムに従って、試料を連続的に加熱または冷却しながら、試料に生じる変化を測定することで材料の温度に対する物性評価ができます。

  • center-03高精度ガス/蒸気吸着量測定装置(ASSA/PSDM)

    高精度ガス/蒸気吸着量測定装置(ASSA/PSDM)

    型  番
    BELSORP-max
    メーカー
    日本ベル
    スペック
    細孔分布 直径0.7~200nm

    比表面積、細孔分布、蒸気吸着そして化学吸着測定が1台にて可能です。各測定ポートに圧力センサーが付属しており最大3検体の同時測定が可能です。

  • center-02自動比表面積・細孔分布測定装置(ASSA/PSDM)

    自動比表面積・細孔分布測定装置(ASSA/PSDM)

    型  番
    BELSORP-miniⅡ
    メーカー
    日本ベル
    スペック
    最小比表面積 0.01m2/g(N2、試料密度に依る)

    定容量式ガス吸着法により窒素などの気体分子を用いて吸脱着等温線を測定し、細孔の情報や比表面積に関する情報を得ることができます。

  • center-01BET表面積測定装置(ASSA/PSDM)

    BET表面積測定装置(ASSA/PSDM)

    型  番
    BELSORP-miniX
    メーカー
    マイクロトラックベル
    スペック
    最大4検体同時測定・高精度3検体同時測定

    定容量式ガス吸着法により窒素などの気体分子を用いて吸脱着等温線を測定し、細孔の情報や比表面積に関する情報を得ることができます。

  • 安定同位体比質量分析計(EA-IRMS)

    center-19安定同位体比質量分析計(EA-IRMS)

    安定同位体比質量分析計(EA-IRMS)

    型  番
    EA-VisION
    メーカー
    アイソプライム
    スペック
    C、N、S、H、Oの安定同位体比測定

    安定同位体比質量分析装置(IRMS)に元素分析装置(EA)が前処理装置として付属する安定同位体比分析ソリューションです。炭素・窒素・硫黄の同時測定が可能で、アタッチメントを交換することによって、水素・酸素の同時測定が可能です。

  • center-05共焦点レーザー走査蛍光顕微鏡(CLSFM)

    共焦点レーザー走査蛍光顕微鏡(CLSFM)

    型  番
    C2Si
    メーカー
    Nikon
    スペック
    スペクトル蛍光画像:32チャンネル、レンズ:10,20,40倍(ドライ), 60倍(油浸)、レーザー:405,488,561,640nm

    共焦点光学系を用いることで、高い解像度と深い焦点深度の両方を実現する顕微鏡です。蛍光ディテクターに加えてスペクトルイメージング専用ディテクターを搭載、重なり合ったスペクトルもクロストークを排し、鮮明な蛍光分離画像を取得できます。

  • 3D測定レーザー顕微鏡

    center-233D測定レーザー顕微鏡

    3D測定レーザー顕微鏡

    型  番
    LEXT OLS4100
    メーカー
    オリンパス
    スペック
    移動分解能:10nm

    非接触でサンプルの三次元表面形状の観察・測定が可能なレーザー顕微鏡です。複雑な微細形状の測定に優れ、触針式表面粗さ測定機とのデータ互換性もあります。

  • レーザ回折式粒子径分布測定装置

    center-12レーザ回折式粒子径分布測定装置

    レーザ回折式粒子径分布測定装置

    型  番
    SALD-2300
    メーカー
    島津
    スペック
    17nm(0.017μm)~ 2500μm(多機能サンプラ使用時)

    粒子群にレーザー光を照射し、そこから発せられる回折・散乱光の強度分布パターンから計算によって粒度分布を求めることができます。湿式測定、乾式測定、高濃度サンプル測定など多様な測定対象と幅広い測定目的に対応できます。

  • 水銀ポロシメータ

    center-24水銀ポロシメータ

    水銀ポロシメータ

    型  番
    Auto Pore Ⅳ 9620
    メーカー
    マイクロメリティックス

    水銀の表面張力が大きいことを利用して粉体の細孔に水銀を浸入させるために圧力を加え、圧力と圧入された水銀量から比表面積や細孔分布を求めることができます。水銀圧入法では、数100μm~数nmまで幅広い範囲の細孔分布を測定できます。

IESTラボ

  • lab-04AUC(超遠心機)

    AUC(超遠心機)

    型  番
    ProteomeLab
    メーカー
    ベックマン・コールター

    AUCは沈降速度法と沈降平衡法の2つがあり、沈降速度法からは分子の形状、均一性・分子の凝集の状態が優位に測定でき、沈降平衡法では分子の粒子径・分子量、分子の分散性の評価が可能です。

  • lab-03FFF/MALS

    FFF/MALS

    型  番
    AF4/DualTec/HeleosⅡ
    メーカー
    Agilent Trecnology/wyatt Technology

    FFF法は、液中に溶解もしくは分散した高分子や微粒子をサイズ分離する手法です。

  • lab-01xSight

    xSight

    型  番
    xSight
    メーカー
    Spheryx,Inc.

    トレイ中の粒子にレーザーを照射し、得られた散乱強度と干渉縞の画像パターンを解析することで、粒子径と屈折率測定を可能にします。

  • lab-02GPC/MALS(水・有機溶媒)

    GPC/MALS(水・有機溶媒)

    型  番
    Prominence/HeleosⅡ
    メーカー
    島津製作所/wyatt Technology

    GPCはカラム中の充填剤により、サンプルの大きさ毎に分離していき、検出器を通過した際に得られたパラメーターを元に測定原理式から分子量、サイズの値を算出します。