概要

試料に電子線を照射して、試料表面から発生する2次電子を検出することにより、試料の表面形態を観察することが可能です。またEDSを付属しているので、元素分析が可能です。

型  番
JSM-7800F
メーカー
JEOL
スペック
分解能:0.8nm(15kV), 1.2nm(1kV)、倍率:×25~×1,000,000 EDS付属

使用例

                       
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文献

  • SEM 走査電子顕微鏡 A〜Z SEMを使うための基礎知識
  • Photoelectrochemical Homocoupling of Methane under Blue Light IrradiationFumiaki Amano, Ayami Shintani, Kenyou Tsurui, Hyosuke Mukohara, Teruhisa Ohno, and Sakae Takenaka