電界放出形走査電子顕微鏡・JEOL（FE-SEM）
メーカー・型式等
- 型 番
- JSM-7800F
- メーカー
- JEOL
- スペック
- 分解能：0.8nm(15kV), 1.2nm(1kV)、倍率：×25～×1,000,000 EDS付属
概要
試料に電子線を照射して、試料表面から発生する2次電子を検出することにより、試料の表面形態を観察することが可能です。またEDSを付属しているので、元素分析が可能です。
使用例
- 長芋の皮の観察
シュウ酸カルシウムの測長とデンプンが観察できる - EDS検出器を使用した定性定量分析の例
銅と銀とスズを含む金属 - EDS検出器を使用したマッピング測定の例
銅と銀とスズを含む金属
文献
- SEM 走査電子顕微鏡 A〜Z SEMを使うための基礎知識Fumiaki Amano, Ayami Shintani, Kenyou Tsurui, Hyosuke Mukohara, Teruhisa Ohno, and Sakae Takenaka
- Photoelectrochemical Homocoupling of Methane under Blue Light Irradiation