概要

発生させた特性X線を試料に入射して、回折したX線の強度を測定することにより、原子・分子が空間的に規則正しく配置している結晶の構造を推定できます。さらに膜圧測定、配向測定、粒径空孔径分布測定など、従来難しかった薄膜材料の測定も可能です。また、小角散乱測定も可能です。

型  番
SmartLab
メーカー
リガク
スペック
小角ユニット、キャピラリーユニット、高温ユニット装備

使用例

                       
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文献

  • Enhancement of photocathodic stability of p-type copper oxide electrodes by surface etching treatmentFumiaki Amano, Toshihiro Ebina, Bunsho Ohtani
  • Fischer-Tropsch synthesis over precipitated iron catalysts supported on carbonKenji Asami, Aiki Iwasa, Naoko Igarashi, Shoko Takemiya, Katsutoshi Yamamoto, Kaoru Fujimoto