走査型電子顕微鏡ご利用上の注意

FE-SEMのオーバーホールでは7月11~19日の期間、ご不便をおかけしました。

整備点検は無事終了し、通常通りご利用いただけますが、以下の点にご注意くださいますようお願いいたします。

1.粒子サイズ1μm以上(倍率10,000倍以下で観察)のサンプルは卓上SEMで観察すること。

2.サンプルの種類によらず、原則的にスパッタコーテイングした後、観察すること。

3.研究室の学生間だけでの使用方法の伝達は原則禁止!!新規登録者は必ず、講習会やEAの直接指導を経ること。

以上、装置の性能を長く保持できるよう、皆様のご協力をよろしくお願いいたします。