機器一覧 の記事一覧
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透過型電子顕微鏡(cryo-TEM)
細胞やタンパク質などの生体試料を、一切の化学固定を行わず、水や水溶性成分を含んだまま観察できます。生体高分子や材料系流体試料は、試料環境を制御し、凍結条件をプログラムできる急速凍結装置(ライカ EM GP2)を用いて氷包埋処理を行うことができます。【...続きを読む】
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電界放出形走査電子顕微鏡・JEOL(FE-SEM)
試料に電子線を照射して、試料表面から発生する2次電子を検出することにより、試料の表面形態を観察することが可能です。またEDSを付属しているので、元素分析が可能です。【...続きを読む】
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共焦点レーザー走査蛍光顕微鏡(CLSFM)
共焦点光学系を用いることで、高い解像度と深い焦点深度の両方を実現する顕微鏡です。蛍光ディテクターに加えてスペクトルイメージング専用ディテクターを搭載、重なり合ったスペクトルもクロストークを排し、鮮明な蛍光分離画像を取得できます。【...続きを読む】
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全自動水平型多目的X線回折装置(XRD)
発生させた特性X線を試料に入射して、回折したX線の強度を測定することにより、原子・分子が空間的に規則正しく配置している結晶の構造を推定できます。さらに膜圧測定、配向測定、粒径空孔径分布測定など、従来難しかった薄膜材料の測定も可能です。また、小角散乱測定も可能です。【...続きを読む】
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蛍光X線分析装置(XRF)
測定サンプルにX線を照射して発生する固有の蛍光X線を測定することで、構成成分の組成分析と定量分析を同時に行う。サンプルの形状は固体、液体、粉末、スラリーなどほぼすべての形態に対応。軽元素(H~F)には非対応。【...続きを読む】
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X線光電子分光分析装置(XPS)
表面数nmに存在する元素 (Li~U)に対し、定性・定量分析が可能です。 XPSは励起源として軟X線を用いているため、励起光による試料損傷が少なく、絶縁物の帯電も容易に除去できることから、金属材料だけでなく、高分子材料など多くの材料に対して測定が可能です。【...続きを読む】
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有機元素分析装置(EA)
試料を燃焼分解させ、試料中の水素・窒素・炭素の重量%を求める定量分析装置です。アタッチメントの交換により硫黄の定量も可能です。【...続きを読む】
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安定同位体比質量分析計(EA-IRMS)
安定同位体比質量分析装置(IRMS)に元素分析装置(EA)が前処理装置として付属する安定同位体比分析ソリューションです。炭素・窒素・硫黄の同時測定が可能で、アタッチメントを交換することによって、水素・酸素の同時測定が可能です。【...続きを読む】